Nuevo método mejora enormemente la resolución de Nanotomografía de Rayos-X
Científicos están trabajando para mejorar la resolución de imágenes de las técnicas de Rayos-X. Uno de esos métodos es la tomografía de Rayos-X, que permite imagenación no-invasiva del interior de materiales. Si se desea representar las complejidades de un micro circuito, por ejemplo, o rastrear las neuronas en un cerebro sin estropear el material que uno está observando, se necesita tomografía de Rayos-X, y cuanto mejor sea la resolución, tanto más pequeños van a ser los fenómenos que se puedan detectar con los Rayos-X.
Con ese fin, un grupo de científicos conducido por el Departamento de Energía de EEUU(DOE) Laboratorio Nacional de Argonne ha creado un nuevo método para mejorar la resolución de Nanotomografía de Rayos-X (Materiales Avanzados, "Nanotomografía Rápida de Rayos-X con Resolución bajo 10 nm como una Poderosa Herramienta de Imagenación para Nanotecnología y Aplicaciones de Almacenammiento de Energía").
https://nano-magazine.com/news/2021/8/25/new-method-greatly-improves-x-ray-nanotomography-resolution
Traducción de Ricardo Ferré
Scientists are working to improve the image resolution of X-ray techniques. One such method is X-ray tomography, which enables non-invasive imaging of the inside of materials. If you want to map the intricacies of a microcircuit, for example, or trace the neurons in a brain without destroying the material you are looking at, you need X-ray tomography, and the better the resolution, the smaller the phenomena you can trace with the X-ray beam.
To that end, a group of scientists led by the U.S. Department of Energy’s (DOE) Argonne National Laboratory has created a new method for improving the resolution of hard X-ray nanotomography (Advanced Materials, "Fast X-ray Nanotomography with Sub-10 nm Resolution as a Powerful Imaging Tool for Nanotechnology and Energy Storage Applications").
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